计算宽度_如何通过紫外可见漫反射光谱计算带隙/禁带宽度(图的绘制:tauc plot&KM法)...

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之前我们介绍了计算带隙的两种办法:1.切线法、2.tauc plot法,有小伙伴反应之前的方法2纵坐标(α hν)1/m单位不清楚的问题,现在我们介绍下如何用origin绘制带隙图,本文所用数据请后台回复数据20获取 :

(α hν)1/m=B(hν-Eg)

直接带隙:m=1/2

间接带隙:m=2

α为吸收系数,B为常数,hν为光子能量,h 为普朗克常数=4.1356676969×10-15 eV·s,ν 为入射光子频率,Eg表示半导体禁带宽度(带隙)

α=2.303*A/d 一般情况下,d为比色皿厚度、薄膜厚度、粉末压片的厚度;

  1. 打开紫外的数据;

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2.按下方的表格计算出各个物理量的数值:其中1代表以1240/λ近似代表hν, 2代表准确的hν,可以看出两者很接近;

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3.计算完相应的物理量,我们以直接带隙为例画图,间接带隙画图类似,只是纵坐标的单位有所不同,一会我们进行说明;

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4.复制需要的两列数据的值到空白的excel区域;然后复制到origin中,删除没用的字符;

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5.生成折线图,将Y轴设为从0开始,并更改x和y轴的title和单位;

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6.x轴title为hν,单位为eV,如果是直接半导体,y轴title为

(α hν)2,单位应为(eV·cm-1)2 ;如果是间接半导体,y轴title为

(α hν)1/2,单位应该是 (eV·cm-1)1/2

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7.按照之前的方法做切线(如何做切线、tauc plot法计算Eg),也可以直接画一条直线拉伸到x轴,计算出Eg,然后根据需要对图进行调整,即可完成Eg数据的绘制。

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延展阅读:

如何通过紫外可见漫反射光谱计算带隙/禁带宽度(方法2.tauc plot法)

如何通过紫外可见漫反射光谱计算带隙/禁带宽度(方法1.切线法)

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