蓝桥杯 基础练习 芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

import java.util.Scanner;

public class Main {

	public static void main(String[] args) {
		Scanner s=new Scanner(System.in);
		int n=s.nextInt();
		int a[][]=new int[n][n];
		for(int i=0;i<n;i++) {
			for(int j=0;j<n;j++) {
				a[i][j]=s.nextInt();
			}
		}
		for(int j=0;j<n;j++) {
			int count=0;
			for(int i=0;i<n;i++) {
			count=count+a[i][j];
			}
			if(count>n/2) {
				System.out.print(j+1+" ");
			}
		}
	}
}

注意：（1）.根据抽屉原理（如果把n+1个物体放入n个抽屉里，则必有一个抽屉里至少放了两个物体。)

(2).统计每一列数总和，如果大于n/2，则该列对应的元器件是好的。